FLIR X-HS系列高端紅外熱像儀是一款集精密測量與廣泛應(yīng)用性于一體的高性能科學(xué)級設(shè)備。它憑借卓越的探測技術(shù)和精密算法，能夠在-80°C至+3000°C的寬溫度范圍內(nèi)識別細(xì)微至0.02°C的溫度變化。
特別值得一提的是，F(xiàn)LIR X-HS系列熱像儀配備了高達(dá)4TB的大容量高速固態(tài)硬盤(SSD)無損記錄系統(tǒng)，可確保每一次紅外圖像采集與數(shù)據(jù)傳輸都能以高保真度進(jìn)行長時(shí)間、不間斷的保存。無遺漏、無失真，這對于需要連續(xù)監(jiān)測、高精度數(shù)據(jù)記錄的科研、國防及工業(yè)領(lǐng)域而言，無疑是革命性的突破。
結(jié)合其中波紅外(MWIR)和長波紅外(LWIR)光譜的兼容性，以及10GigE和CoaXPress(CXP)2.1的高速接口，F(xiàn)LIR X-HS系列熱像儀不僅滿足了嚴(yán)苛的科研需求，更成為科學(xué)家、工程師、研究人員及質(zhì)量保證經(jīng)理等專業(yè)人士在復(fù)雜測試場景中不可或缺的得力助手。
FLIR X-HS系列科學(xué)紅外熱像儀可主要應(yīng)用在彈道學(xué)、無損檢測、作應(yīng)力圖、PCB和電子部件測試、輻射測量等相關(guān)行業(yè)。
