直調(diào)激光器芯片采用控制注入電流的大小來(lái)改變輸出光波的強(qiáng)弱，調(diào)制速率越來(lái)越高，其關(guān)鍵參數(shù)——頻響的測(cè)試必不可少?，F(xiàn)有測(cè)試方案多是采用多臺(tái)儀器搭建系統(tǒng)來(lái)應(yīng)對(duì)，存在集成度低、累積誤差大、校準(zhǔn)困難等痼疾，且操作復(fù)雜、測(cè)試效率低，越來(lái)越難以滿(mǎn)足激光器芯片研發(fā)人員的需求，成為驗(yàn)證產(chǎn)品質(zhì)量、制約研發(fā)效率的基礎(chǔ)和關(guān)鍵環(huán)節(jié)！

圖1  6433系列LCA（10MHz~26.5/43.5/50/67GHz）

基于6433系列光波元件分析儀(Lightwave Component Analyzer，LCA) ，電科思儀推出了覆蓋不同調(diào)制速率（10MHz~26.5/43.5/50/67GHz）的直調(diào)激光器芯片頻響的高效測(cè)試方案，得到了光通信行業(yè)多家公司的應(yīng)用與好評(píng)，主要測(cè)試流程如下：

（1）設(shè)置射頻參數(shù)并進(jìn)行電路校準(zhǔn)：設(shè)置如起始頻率、終止頻率、掃描點(diǎn)數(shù)、中頻帶寬、端口功率等參數(shù)后選擇向?qū)?zhǔn)，依據(jù)被測(cè)件進(jìn)行端口校準(zhǔn)類(lèi)型選擇并選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)件，之后按照向?qū)?zhǔn)步驟逐次連接相應(yīng)的校準(zhǔn)件進(jìn)行校準(zhǔn)，如圖（2）所示；

圖2  校準(zhǔn)過(guò)程

（2）選定“電光測(cè)試”模式并設(shè)置光波參數(shù)：根據(jù)被測(cè)件測(cè)量需求設(shè)置光波長(zhǎng)、輸入端口、校準(zhǔn)類(lèi)型以及根據(jù)鏈路狀況選擇去嵌入文件；

圖3  LCA電光測(cè)試

（3）被測(cè)件的鏈路連接：按圖4所示方案開(kāi)展光/電線纜的連接；

圖4  直調(diào)激光器芯片測(cè)量連接方案

（4）測(cè)量和結(jié)果分析：將測(cè)量曲線類(lèi)型選擇為“S21”，點(diǎn)擊“開(kāi)始”后觸發(fā)測(cè)量，待掃描完成后通過(guò)“參考光標(biāo)”和“?光標(biāo)”來(lái)進(jìn)行-3dB帶寬的跟蹤。

圖5  頻響測(cè)量結(jié)果曲線

區(qū)區(qū)四步就可以高效獲得直調(diào)激光器的頻響曲線，包括關(guān)鍵的-3dB帶寬分析結(jié)果。此外，6433LCA還具備增益、損耗、傳輸系數(shù)、反射系數(shù)、輸入阻抗、輸出阻抗、群時(shí)延等參數(shù)的測(cè)量功能，既支持界面化操作,也支持SCPI指令的程控化操作，免去了分離式搭建測(cè)試系統(tǒng)的復(fù)雜與繁瑣，保障了測(cè)量精度和可靠性，提升了一倍以上的測(cè)試效率。