一、ATE測試機現(xiàn)狀

晶圓測試和成品檢測主要用到自動化測試系統(tǒng)（Automatic Test Equipment，ATE，又稱為測試機）、分選機和探針臺三種設備，其中ATE測試機是檢測設備中最重要的設備類型，價值量占比約為63%：根據數據顯示，2018年國內ATE測試機、分選機和探針臺市占率分別為63.1%、17.4%和15.2%，其它設備占4.3%。

2018年國內晶圓測試和成品檢測設備市場占比情況

ATE測試機的檢測內容主要為功能和電參數檢測：ATE測試機通過計算機自動控制，能夠自動完成對半導體的測試，加快檢測電學參數的速度，降低芯片測試成本，主要測試內容為半導體器件的電路功能、電性能參數，具體涵蓋直流參數（電壓、電流）、交流參數（時間、占空比、總諧波失真、頻率等）、功能測試等。

ATE測試機、分選機、探針臺設備對比

二、ATE測試機技術核心

衡量ATE測試機技術先進性的關鍵指標：主要包括測試功能模塊、測試精度、響應速度、應用程序定制化和測試數據存儲、采集和分析等，其技術核心在于功能集成、精度、速度與可延展性。

功能集成：芯片集成度不斷提升，測試機所需測試的范圍也不斷擴大，能夠覆蓋更大范圍的測試機更受客戶青睞；測試精度：ATE測試機精度影響對不符合要求產品的判斷，重要指標包括測試電流、電壓、電容、時間量；響應速度：下游客戶為提高出貨速度對測試時間要求越來越高，響應速度快的設備；可延展性：ATE測試機價格投入較高，可靈活增加測試功能、提升通道數和工位數的設備能夠極大地降低客戶成本。

衡量ATE測試機技術先進性的關鍵指標

三、ATE測試機細分領域

ATE細分領域多元，市場需求存在差異：不同類型芯片的測試需求的側重點不同，ATE根據下游應用可細分為存儲器、SoC、模擬/混合類和功率測試機等；全球ATE市場以存儲器和SoC測試為主，國內模擬/混合測試、數字測試等領域仍存較大市場空間。

模擬/混合類測試機：主要針對以模擬信號電路為主、數字信號為輔的半導體而設計的自動測試系統(tǒng)，被測電路主包括電源管理器件、高精度模擬器件、數據轉換器、汽車電子及分立器件等。其中模擬信號是指是指信息參數在給定范圍內表現(xiàn)為連續(xù)的信號，或在一段連續(xù)的時間間隔內，其代表信息的特征量可以在任意瞬間呈現(xiàn)為任意數值的信號；數字信號是指人們抽象出來的時間上不連續(xù)的信號，其幅度的取值是離散的，且幅值被限制在有限個數值之內。模擬/混合類測試機技術難度整體不高，代表企業(yè)為國外泰瑞達、國內華峰測控、長川科技和上海宏測。

模擬/混合類測試機測試對象、技術參數及主要玩家

SoC測試機：主要針對以SoC芯片的測試系統(tǒng)，SoC芯片即系統(tǒng)級芯片（System on Chip），通?？梢詫⑦壿嬆K、微處理器MCU/微控制器CPU內核模塊、數字信號處理器DSP模塊、嵌入的存儲器模塊、外部進行通訊的接口模塊、含有ADC/DAC的模擬前端模塊、電源管理模塊PMIC等集成在一起，設計和封裝難度高于普通數字和模擬芯片，SoC測試機被測芯片可以是微處理器MCU、CPU、通信芯片等純數字芯片或數模混合/數字射頻混合芯片，測試引腳數可達1000以上，對信號頻率要求較高尤其是數字通道測試頻率要求較高。目前市場上代表企業(yè)為泰瑞達、愛德萬和華峰測控。

SoC測試機測試對象、技術參數及主要玩家

存儲測試機：存儲測試機主要針對存儲器進行測試，其基本原理與模擬/SoC不同，往往通過寫入一些數據再校驗讀回的數據進行測試，盡管SoC測試機也能針對存儲單元進行測試，但SoC測試機的復雜程度較高，且許多功能在進行存儲器測試時是用不到的，因此出于性價比及性能的考量存儲芯片廠商需要采購存儲器測試機進行測試，盡管存儲器邏輯電路部分較為簡單，但由于存儲單元較多，其數據量巨大，因此存儲測試機的引腳數較多，且對頻率及信號同步性要求較高，目前市場上存儲測試機代表性企業(yè)為愛德萬。

存儲測試機測試對象、技術參數及主要玩家

四、ATE測試機細分領域

靈活

例如泰瑞達采用可擴展的測試架構—— 板卡，板卡有專門應用于模擬、RF、數字測試的。

測試平臺多樣化

并行測試，即多個芯片同時測試，這樣可以 降低每個芯片的測試時間和成本。

測試環(huán)境

例如泰瑞達的IG-XL軟件是圖形化 的界面，讓設計工程師很容易上手，也能夠快速、更 好地完成更繁重的任務，縮短產品的上市時間。