4月8日，全國電子測量儀器標準化技術委員會（以下簡稱儀器標委會）在北京組織召開了《電子測量儀器評價指標體系》（計劃號:2024-1499T-SJ）《半導體器件動態(tài)特性參數(shù)綜合測試儀》（計劃號:2024-1847T-SJ）等2項電子行業(yè)標準研討會。儀器標委會副主任委員荀京京、副秘書長曹策，中國電子技術標準化研究院、山東省計量科學研究院、浙江省質量科學研究院、中國船舶集團有限公司第七〇九研究所、中國計量大學、青島艾諾儀器有限公司、普源精電科技股份有限公司、北京康斯特儀表科技股份有限公司、北京航天測控技術有限公司、石家莊數(shù)英儀器有限公司、北京新凱來技術有限公司等十余家產學研用有關單位代表，以及部分儀器標委會委員參加了會議。

中國電子技術標準化研究院作為2項電子行業(yè)標準的牽頭單位，向與會人員介紹了標準的制定背景，會上重點圍繞2項標準草案中關于電子測量儀器評價指標架構、指標要求以及評價過程，半導體器件參數(shù)綜合測試技術要求等技術內容進行了深入研討，會后牽頭單位將根據(jù)會上討論的內容進一步完善標準草案并編制征求意見稿。

《電子測量儀器評價指標體系》以補齊我國儀器儀表行業(yè)基礎共性要求為目標，綜合《電子測量儀器通用規(guī)范》等國家標準要求，以及用戶在使用國內與國外電子測量儀器過程中反饋的具有共性的產品質量特性差距為出發(fā)點，通過標準引導國內電子測量儀器向著測量結果準確、產品質量可靠、具有國際競爭力邁進。

《半導體器件動態(tài)特性參數(shù)綜合測試儀》以我國半導體制造領域電學特性測量設備產品規(guī)范需求為導向，旨在為儀器制造商、用戶單位、第三方測試機構在半導體器件動態(tài)特性參數(shù)綜合測試儀設計、測試、驗收、使用等環(huán)節(jié)提供參考。