2019年10月24日，由中國儀器儀表學會組織的“高精度數(shù)字化激光干涉儀關(guān)鍵技術(shù)”項目鑒定會在上海理工大學成功舉行。本項目是由上海理工大學、蘇州慧利儀器有限責任公司和蘇州維納儀器有限責任公司共同完成。

本次鑒定會的特點是高規(guī)格和國際化，首次由國內(nèi)外院士和同行專家共同評審的一次國際性鑒定會。鑒定委員會專家由中國工程院院士莊松林、中國工程院院士李同保、中國工程院院士姜會林、中國工程院外籍院士和澳大利亞兩院院士顧敏、中國計量科學研究院院長方向、上海光學精密機械研究所書記邵建達、德國聯(lián)邦物理技術(shù)研究所主任Gerd Ehret、英國南安普頓大學教授John Mcbride、深圳大學教授彭翔、德國斯圖加特大學主任Pedrini Giancarlo組成。

鑒定會合影留念

中國儀器儀表學會副理事長吳幼華和主任燕澤程分別介紹了與會專家和鑒定會要求，上海理工大學副校長劉平致歡迎辭，上海理工大學科技處處長張大偉出席，中國工程院院士李同保主持了鑒定會，上海理工大學教授韓森做項目匯報。

中國儀器儀表學會副理事長吳幼華和主任燕澤程組織會議

上海理工大學副校長劉平致歡迎辭

中國工程院院士李同保主持項目鑒定會會議

上海理工大學教授韓森做項目匯報

鑒定委員會聽取項目研究報告后，審查了有關(guān)技術(shù)文件，查看了高精度數(shù)字化激光干涉儀。評審環(huán)節(jié)，各位專家分別就平面計量方向、測量環(huán)境、傳遞函數(shù)等問題提出了質(zhì)詢和深入討論，并給出合理建議。

最終對項目的關(guān)鍵創(chuàng)新點突破一等平面平晶檢測的瓶頸限制、突破有限特定波長檢測透射系統(tǒng)波前的局限、發(fā)明環(huán)形導軌內(nèi)外槽面光學檢測裝置、提出模塊化設計思路給予高度評價。形成鑒定結(jié)論：該項目研究成果技術(shù)難度大，創(chuàng)新性強，取得了多項自主知識產(chǎn)權(quán)，部分產(chǎn)品填補國內(nèi)空白，總體技術(shù)達到了國際先進水平，PV值測量等核心指標及相關(guān)技術(shù)達到國際領先水平。