T/R組件是有源相控陣?yán)走_(dá)中使用量最多的一類(lèi)微波有源多功能組件，一部雷達(dá)中有少則幾十，多則成千上萬(wàn)個(gè)T/R組件，其成本約占雷達(dá)造價(jià)的60%～70%，T/R組件對(duì)雷達(dá)的目標(biāo)探測(cè)距離和精度等指標(biāo)有決定性作用，如何高效地完成產(chǎn)品的批量化測(cè)試一直是行業(yè)焦點(diǎn)和痛點(diǎn)。

從測(cè)試的角度來(lái)看，T/R組件具有端口復(fù)用、收發(fā)一體、大小功率信號(hào)并存、通道數(shù)量多和測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)等特點(diǎn)，還需實(shí)現(xiàn)激勵(lì)信號(hào)放大、發(fā)射信號(hào)衰減和收發(fā)測(cè)試轉(zhuǎn)換等調(diào)理。測(cè)試過(guò)程中需要完成發(fā)射功率、接收增益、雜散、頂降和收發(fā)轉(zhuǎn)換時(shí)間等多達(dá)50余項(xiàng)參數(shù)測(cè)試，參數(shù)類(lèi)型覆蓋S參數(shù)、功率參數(shù)、頻譜參數(shù)、波形參數(shù)和時(shí)間參數(shù)等，所以測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)建復(fù)雜，同時(shí)對(duì)于測(cè)試效率、測(cè)試安全性、測(cè)量準(zhǔn)確度和數(shù)據(jù)處理能力有著較為苛刻的要求。因此，T/R組件測(cè)試系統(tǒng)是衡量有源多功能組件測(cè)試能力和水平的標(biāo)志性產(chǎn)品。

思儀科技是國(guó)內(nèi)領(lǐng)先型T/R組件測(cè)試解決方案廠商，在測(cè)試效率方面十?dāng)?shù)倍于傳統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試產(chǎn)品；在測(cè)試安全性方面，實(shí)現(xiàn)了被測(cè)T/R組件、測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試數(shù)據(jù)等多維度全要素安全性躍升；在測(cè)量準(zhǔn)確度方面，設(shè)計(jì)了全面易用的校準(zhǔn)策略；在數(shù)據(jù)處理能力方面，被測(cè)對(duì)象性能指標(biāo)趨勢(shì)分析和批次間分布差異分析。

伴隨T/R組件芯片化和雷達(dá)制造數(shù)字化轉(zhuǎn)型的發(fā)展趨勢(shì)，T/R組件測(cè)試系統(tǒng)必將在有源相控陣?yán)走_(dá)研制和生產(chǎn)中發(fā)揮更大的作用，為雷達(dá)產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供先進(jìn)測(cè)試技術(shù)和測(cè)試手段支撐。

思儀科技數(shù)字化多工位T/R 組件批量測(cè)試系統(tǒng)